发明名称 一种深矽蚀刻方法
摘要 本发明提供了一种深矽蚀刻方法,包括如下步骤:非等向性蚀刻步骤,提供第一反应气体在电浆作用下对矽材料层进行蚀刻,并蚀刻至一定深度,以露出一蚀刻界面,蚀刻界面包括侧壁,第一反应气体包括蚀刻气体和侧壁保护气体,侧壁保护气体用于补偿蚀刻气体对该侧壁在横向方向上的蚀刻作用;侧壁保护步骤,提供第二反应气体,在电浆作用下,在蚀刻界面的侧壁形成侧壁保护层,附着在蚀刻界面的侧壁表面。本发明蚀刻速率快,并且制得的深矽通孔或者沟槽形貌好,深度深,不会产生侧壁呈现波浪形或者锥形的问题。
申请公布号 TW201545232 申请公布日期 2015.12.01
申请号 TW103143959 申请日期 2014.12.16
申请人 中微半导体设备(上海)有限公司 发明人 王红超;刘 身健;严利均
分类号 H01L21/3065(2006.01) 主分类号 H01L21/3065(2006.01)
代理机构 代理人 林志青
主权项
地址 中国大陆 CN