发光二极体之量测装置;TESTING APPARATUS FOR LIGHT EMITTING DIODES

摘要

一种发光二极体之量测装置用于量测复数个覆晶式发光二极体。覆晶式发光二极体之间皆具有一间隙。发光二极体之量测装置包含晶片膜、光检测装置与遮光元件。晶片膜承载覆晶式发光二极体。光检测装置设置于晶片膜相对覆晶式发光二极体之一侧。光检测装置具有收光口。遮光元件设置于收光口。遮光元件具有透光区与遮光区，遮光区环绕透光区。透光区之面积可涵盖单一覆晶式发光二极体与间隙之部分范围。