发明名称 研磨液及研磨方法
摘要
申请公布号 TWI510604 申请公布日期 2015.12.01
申请号 TW098117663 申请日期 2009.05.27
申请人 富士软片股份有限公司 发明人 上村哲也
分类号 C09K3/14;C09G1/02;H01L21/304 主分类号 C09K3/14
代理机构 代理人 何金涂 台北市大安区敦化南路2段77号8楼
主权项 一种研磨液,其使用在半导体积体电路之制造的平面化方法中来化学机械研磨欲研磨的主体,该欲研磨的主体包含至少一包含多晶矽或经改质的多晶矽之第一层,及一包含至少一种选自于由氮化矽、碳化矽、碳氮化矽、氧碳化矽及氧氮化矽所组成之群的第二层;该研磨液具有pH 1.5至7.0,其包含(1)胶体氧化矽颗粒、(2)在其分子结构中包含至少一个羧基的有机酸及(3)阴离子界面活性剂,及其能相对于第一层选择性研磨第二层使得欲研磨的主体系在由RR(其它)/RR(p-Si)所表示的比率为1.5至200之范围内被研磨,其中RR(p-Si)代表第一层之研磨速率及RR(其它)代表第二层之研磨速率。
地址 日本