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经营范围
发明名称
保形氮化铝的高成长速度制程;HIGH GROWTH RATE PROCESS FOR CONFORMAL ALUMINUM NITRIDE
摘要
提供在半导体基板上沈积保形氮化铝薄膜的方法。所揭露的方法涉及:(a)使一基板暴露至一含铝前驱物;(b)吹净该含铝前驱物一段时间,此段时间不足以移除实质上所有气相的该含铝前驱物;(c)将基板暴露至一含氮前驱物以形成氮化铝;(d)吹净含氮前驱物;及(e)重覆(a)至(d)。获得较高的成长速度以及100%的阶梯覆盖率与保形性。
申请公布号
TW201544619
申请公布日期
2015.12.01
申请号
TW104104471
申请日期
2015.02.11
申请人
兰姆研究公司 LAM RESEARCH CORPORATION
发明人
史旺明内森 珊卡 SWAMINATHAN, SHANKAR;班纳吉 阿南达 BANERJI, ANANDA;珊卡 纳葛 SHANKAR, NAGRAJ;拉芙依 艾里恩 LAVOIE, ADRIEN
分类号
C23C16/34(2006.01);C23C16/455(2006.01)
主分类号
C23C16/34(2006.01)
代理机构
代理人
许峻荣
主权项
地址
美国 US
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