发明名称 可降低晶圆坏率的晶块切割方法;INGOT CUTTING METHOD CAPABLE OF REDUCING WAFER DAMAGE PERCENTAGE
摘要 一种可降低晶圆坏率的晶块切割方法,其包含:在一晶块之至少一表面形成一奈米结构层;在该奈米结构层上沉积或涂布一缓冲层;在该缓冲层和一固定板之间施加一层树脂以使该晶块固定在该固定板上;对该晶块执行一切割程序以获得复数片晶圆;以及对所述复数片晶圆执行一树脂去除程序。; depositing a buffer layer on the layer of nanostructures; fixing the ingot to a mounting plate by applying a layer of epoxy between the buffer layer and the mounting plate; performing a dicing process on the ingot to get a plurality of wafers; and performing an epoxy removal process on the plurality of wafers.
申请公布号 TW201545221 申请公布日期 2015.12.01
申请号 TW104101451 申请日期 2015.01.16
申请人 国立清华大学 发明人 叶哲良
分类号 H01L21/304(2006.01) 主分类号 H01L21/304(2006.01)
代理机构 代理人 林文烽
主权项
地址 新竹市光复路2段101号 TW