发明名称 可选择地浓缩分离待测粒子的方法与晶片
摘要
申请公布号 TWI510773 申请公布日期 2015.12.01
申请号 TW101134715 申请日期 2012.09.21
申请人 财团法人国家实验研究院 发明人 郑宜肪;杨富量;张宪彰;陈姿颖
分类号 G01N1/40 主分类号 G01N1/40
代理机构 代理人 高玉骏 台北市松山区南京东路3段248号7楼;杨祺雄 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项 一种可选择地浓缩分离待测粒子的晶片,用于将一包括多数第一微粒,及多数第二微粒的溶液中的该等第一微粒与第二微粒分离,该晶片包含:一晶片本体,具有一可容置溶液的分离空间;一内电极,设置于晶片本体上并位于该分离空间中;一外电极单元,设置于该晶片本体上并具有一位于该分离空间中并与该内电极相间隔地环围该内电极的第一外电极,及一位于该分离空间中并与该第一外电极相间隔地环围该第一外电极的第二外电极;及一动力源,与该内电极、该第一外电极和该第二外电极电连接;其中,该第一微粒和第二微粒的平均粒径是微米尺度等级且比值不小于1.5,及该第二微粒的平均粒径是奈米尺度等级且该第一、二微粒的平均粒径比值不小于10二者其中之一。
地址 台北市大安区和平东路2段106号3楼