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经营范围
发明名称
半导体装置及其制造方法;SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
摘要
本发明的一个实施方式提供一种占有面积小且集成度高的半导体装置。本发明的一个实施方式是一种半导体装置,包括:第一绝缘层、导电层及第二绝缘层,其中,导电层设置在第一绝缘层与第二绝缘层之间,第一绝缘层、导电层及第二绝缘层包括彼此重叠的区域,接触插塞贯穿第一绝缘层、导电层及第二绝缘层,并且,在从第二绝缘层向第一绝缘层的深度方向上,接触插塞的直径在第二绝缘层与导电层的介面处变小。
申请公布号
TW201545350
申请公布日期
2015.12.01
申请号
TW103131585
申请日期
2014.09.12
申请人
半导体能源研究所股份有限公司 SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.
发明人
笹川慎也 SASAGAWA, SHINYA;宫入秀和 MIYAIRI, HIDEKAZU;山崎舜平 YAMAZAKI, SHUNPEI;仓田求 KURATA, MOTOMU
分类号
H01L29/78(2006.01);H01L23/52(2006.01)
主分类号
H01L29/78(2006.01)
代理机构
代理人
林志刚
主权项
地址
日本 JP
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