发明名称 METHOD APPARATUS AND SYSTEM FOR PROVIDING METERING OF ACCELERATION
摘要 <p>가속도를 계측하는 기술 및 메커니즘이 제공된다. 일 실시예에서, 미세전자기계 가속도계(microelectromechanical accelerometer)는 자석, 질량체, 이 질량체를 지지하는 제 1 지지 빔 부분 및 제 2 지지 빔 부분을 포함한다. 제 1 지지 빔 부분 및 제 2 지지 빔 부분의 공진 주파수 특성은, 제 1 지지 빔 부분 및 제 2 지지 빔 부분에 의해 도전되는 전류 및 자석에 기반하여, 질량체의 가속도를 나타낸다. 다른 실시예에서, 가속도계는 제 1 와이어 부분 및 제 2 와이어 부분을 더 포함하는데, 제 1 와이어 부분 및 제 2 와이어 부분은 각각 질량체에 접속되고, 또한 제 1 와이어 부분 및 제 2 와이어 부분과 신호를 교환하는 각각의 앵커에도 접속된다. 제 1 와이어 부분 및 제 2 와이어 부분은 질량체의 바이어싱(biasing)을 제공한다.</p>
申请公布号 KR101572077(B1) 申请公布日期 2015.11.27
申请号 KR20147018015 申请日期 2013.06.20
申请人 인텔 코포레이션 发明人 린 케빈 엘;에이드 페라스;마 큉
分类号 B81B3/00;G01P15/105 主分类号 B81B3/00
代理机构 代理人
主权项
地址