发明名称 Verfahren zur Bestimmung der erwarteten Verteilung der inhärenten Fehlstellen in einem Bauteil
摘要 Es wird ein Verfahren zur Bestimmung der erwarteten Verteilung (8) der inhärenten Fehlstellen in einem Bauteil beschrieben, welches die folgenden Schritte umfasst: – das Bauteil wird mit Hilfe eines nicht zerstörenden Prüfverfahrens zumindest teilweise untersucht, – eine beobachtete Verteilung fobs(TFS) (3) der realen Fehlergröße TFSobs des nicht zerstörenden Prüfverfahrens wird unter Verwendung einer beobachteten Verteilungsdichte fKSR (1) einer Kalibrierungseinheit (KSR) des nicht zerstörenden Prüfverfahrens und einer Wahrscheinlichkeitsdichtfunktion fkdat (2) der Konversionsfaktoren einer Kalibrierungsdatenbank (KSR Datenbank) bestimmt, – eine erwartete Verteilung fexp(TFS) (4) der realen Fehlergröße wird aus der beobachteten Verteilung fobs(TFS) (3) der realen Fehlergröße TFSobs bestimmt, – eine Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion facc(TFS) der realen Fehlergröße des untersuchten Bauteils wird aus der erwarteten Verteilung fexp(TFS) (4) der realen Fehlergröße, einer Detektionswahrscheinlichkeit PoDacc (7) des untersuchten Bauteils und einer Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion fkacc (6) der Konversionsfaktoren des untersuchten Bauteils bestimmt.
申请公布号 DE102014209858(A1) 申请公布日期 2015.11.26
申请号 DE201410209858 申请日期 2014.05.23
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 AMANN, CHRISTIAN;KADAU, KAI
分类号 G06F17/18;G01M13/00;G01M99/00;G07C3/08 主分类号 G06F17/18
代理机构 代理人
主权项
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