| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum rechnergestützten Testen eines technischen Systems, bei dem basierend auf einem vorgegebenen Takt zyklisch vorbestimmte Zeitschlitze reserviert werden, welche ausschließlich zum Testen des technischen Systems nutzbar sind, und in einem oder mehreren Rechnerknoten (R1, R2, ..., SA4) des technischen Systems jeweils eine Testsonde (T) integriert ist. Durch eine jeweilige Testsonde (T) wird beim Testen des technischen Systems ein internes Testprogramm (ITP) ausgeführt, das in der jeweiligen Testsonde (T) hinterlegt ist, wobei die jeweilige Testsonde (T) mittels des internen Testprogramms (ITP) auf eine System-Datenbank (S-DB) zugreift, die Daten in der Form von Zustandsdaten des technischen Systems enthält und in dem Rechnerknoten (R1, R2, ..., SA4) hinterlegt ist, in dem die jeweilige Testsonde (T) integriert ist.</p> |
