发明名称 Simulationsgestützte Defektbewertung mit Ultraschall
摘要 Die Erfindung betrifft eine Untersuchungsvorrichtung (10) zum Untersuchen eines Bauteils (12), wobei die Untersuchungsvorrichtung (10) eine Messeinrichtung (16) zum Durchführen einer Ultraschallmessung an dem Bauteil (12) und eine Analyseeinrichtung (18) aufweist. Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, Strukturelemente (22), wie z.B. Defekte, in dem Bauteil (12) zu quantifizieren. Die Analyseeinrichtung (18) ist erfindungsgemäß dazu ausgelegt, in Abhängigkeit von Ultraschallmessdaten (M) der Messeinrichtung (16) mittels einer Rekonstruktionsmethode eine Anzahl (N) und eine jeweilige Position (X1, X2) von mindestens einem inneren Strukturelement (22) des Bauteils (12) zu ermitteln und mittels eines Simulators (30) in Abhängigkeit von jeder ermittelten Position (X1, X2) anhand eines jeweiligen Modells (28) für das mindestens eine Strukturelement (22) mindestens eine Beschaffenheit jedes Strukturelements (22) durch Simulieren der Ultraschallmessung und Anpassen jedes Modells (28) zu ermitteln.
申请公布号 DE102014209773(A1) 申请公布日期 2015.11.26
申请号 DE201410209773 申请日期 2014.05.22
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人
分类号 G01N29/04;G01B17/00 主分类号 G01N29/04
代理机构 代理人
主权项
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