发明名称 用于检测离子源污染的分析器
摘要 本发明涉及一种用于检测离子源污染的分析器,包括离子筛选管,还包括控制器,所述离子筛选管的侧壁上设有若干相互隔离且并排的石墨条,所述控制器与各石墨条相连接,所述各石墨条接收单种杂质离子,所述控制器时时监测各石墨条上的杂质离子用于检测离子源污染。本发明在离子筛选管侧壁上设有相互隔离并排的石墨条,由于杂质离子的离子运动半径不同,因而会落在分析器的离子筛选管侧壁上的不同位置,即不同的石墨条会接收到不同的杂质离子,各石墨条后端连接控制器,检测各石墨条上的电流,监测杂质离子是否有异常,从而判断离子源是否有污染或是否不稳定,进而避免大规模的产品污染。
申请公布号 CN103247508B 申请公布日期 2015.11.25
申请号 CN201210033028.6 申请日期 2012.02.14
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 许飞
分类号 H01J37/244(2006.01)I;H01J37/317(2006.01)I 主分类号 H01J37/244(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 屈蘅;李时云
主权项 一种用于检测离子源污染的分析器,包括离子筛选管,其特征在于:还包括控制器,所述离子筛选管的侧壁上设有若干相互隔离且并排的石墨条,所述控制器与各石墨条相连接,所述各石墨条接收单种杂质离子,所述控制器时时监测各石墨条上的杂质离子用于检测离子源污染,其中,各石墨条之间的间隔根据各种杂质离子的离子运动半径来设定。
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号