发明名称 |
用于检测离子源污染的分析器 |
摘要 |
本发明涉及一种用于检测离子源污染的分析器,包括离子筛选管,还包括控制器,所述离子筛选管的侧壁上设有若干相互隔离且并排的石墨条,所述控制器与各石墨条相连接,所述各石墨条接收单种杂质离子,所述控制器时时监测各石墨条上的杂质离子用于检测离子源污染。本发明在离子筛选管侧壁上设有相互隔离并排的石墨条,由于杂质离子的离子运动半径不同,因而会落在分析器的离子筛选管侧壁上的不同位置,即不同的石墨条会接收到不同的杂质离子,各石墨条后端连接控制器,检测各石墨条上的电流,监测杂质离子是否有异常,从而判断离子源是否有污染或是否不稳定,进而避免大规模的产品污染。 |
申请公布号 |
CN103247508B |
申请公布日期 |
2015.11.25 |
申请号 |
CN201210033028.6 |
申请日期 |
2012.02.14 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
许飞 |
分类号 |
H01J37/244(2006.01)I;H01J37/317(2006.01)I |
主分类号 |
H01J37/244(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
屈蘅;李时云 |
主权项 |
一种用于检测离子源污染的分析器,包括离子筛选管,其特征在于:还包括控制器,所述离子筛选管的侧壁上设有若干相互隔离且并排的石墨条,所述控制器与各石墨条相连接,所述各石墨条接收单种杂质离子,所述控制器时时监测各石墨条上的杂质离子用于检测离子源污染,其中,各石墨条之间的间隔根据各种杂质离子的离子运动半径来设定。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江路18号 |