发明名称 |
ESD检测方法、装置以及ESD调试方法、装置 |
摘要 |
一种ESD检测方法、装置以及ESD调试方法、装置,ESD检测方法包括:接收输入文件;通过技术工具文件提取对应版图文件的网表;检测网表中挂载在电源线上的电路单元所设置的ESD保护器件类型;通过检测网表的电路单元中器件的分布坐标,获取网表中各电路单元分布范围;计算各电路单元分布范围与网表中顶层电路单元分布范围的比值;当比值大于或等于第一预设值时,判定电路单元中包括核芯器件,判断ESD保护器件类型是否为适用于核芯器件的ESD保护器件;当ESD保护器件类型不适用于核芯器件的ESD保护器件,判定电路违反ESD设计规则;当比值小于第一预设值,检测电路单元中是否包含核芯器件。所述方法和装置减少了检测时间。 |
申请公布号 |
CN105092994A |
申请公布日期 |
2015.11.25 |
申请号 |
CN201410181425.7 |
申请日期 |
2014.04.30 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
发明人 |
林松;李宏伟 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
骆苏华 |
主权项 |
一种芯片的ESD检测方法,其特征在于,包括:接收输入文件,所述输入文件包括电路版图文件、技术工具文件和环境参数文件;通过所述技术工具文件提取对应所述版图文件的网表;检测所述网表中挂载在电源线上的电路单元所设置的ESD保护器件的类型;通过检测所述网表的电路单元中器件的分布坐标,获取所述网表中各电路单元的分布范围;计算所述各电路单元分布范围与网表中顶层电路单元分布范围的比值;当所述比值大于或等于第一预设值时,判定所述电路单元中包括核芯器件,并判断所述ESD保护器件的类型是否为适用于核芯器件的ESD保护器件;当所述ESD保护器件的类型不适用于核芯器件的ESD保护器件时,判定电路违反ESD设计规则;当所述比值小于所述第一预设值时,分别检测所述电路单元中是否包含核芯器件;当所述电路单元中包含核芯器件时,判断所述ESD保护器件的类型是否为适用于核芯器件的ESD保护器件;当所述ESD保护器件的类型为不适用于核芯器件的ESD保护器件时,判定电路违反ESD设计规则。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江路18号 |