发明名称 |
一种实现存储器缺陷映射表的系统和方法 |
摘要 |
本发明在此公开一种用于管理信息处理系统中存储器缺陷的系统和方法。在信息处理系统中,第一容量存储器例如随机存取存储器,可以包含有缺陷的存储器部分。第二容量存储器与所述第一容量存储器在物理上连接,并用来存储存储器缺陷映射表,该映射表包含关于第一容量存储器中的缺陷部分的位置的信息。所述存储器缺陷映射表会被BIOS或操作系统所参考,从而避免使用包含有缺陷存储器部分的存储区域。 |
申请公布号 |
CN101369245B |
申请公布日期 |
2015.11.25 |
申请号 |
CN200810145712.7 |
申请日期 |
2008.08.11 |
申请人 |
戴尔产品有限公司 |
发明人 |
M·P·哈尔特里;J·D·派克;F·E·诺罗德;B·S·特拉维斯 |
分类号 |
G06F11/22(2006.01)I;G06F12/02(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/22(2006.01)I |
代理机构 |
北京润平知识产权代理有限公司 11283 |
代理人 |
周建秋;王凤桐 |
主权项 |
一种用于管理存储器缺陷的系统,该系统包括:第一容量存储器;第二容量存储器;处理器,其中所述处理器可操作用于检测所述第一容量存储器的有缺陷部分,至少一个所述有缺陷部分还包括至少一个缺陷块和至少一个无缺陷存储块;存储于所述第二容量存储器内的存储器缺陷映射表包含有关所述第一容量存储器的所述有缺陷部分的信息,且被布置为由运行信息处理系统的操作系统获取,以使得基于存储在所述存储器缺陷映射表中的信息来从所述信息处理系统隐藏所述第一容量存储器的有缺陷部分。 |
地址 |
美国德克萨斯州 |