发明名称 电子电气设备用铜合金、电子电气设备用铜合金薄板、电子电气设备用铜合金的制造方法、电子电气设备用导电元件以及端子
摘要 本发明提供一种电子电气设备用铜合金、电子电气设备用铜合金薄板、电子电气设备用铜合金的制造方法、电子电气设备用导电元件以及端子,在所述铜合金中,以质量%计,含有超过2.0%且36.5%以下的Zn、0.1%以上且0.9%以下的Sn、0.05%以上且不到1.0%的Ni、0.001%以上且不到0.10%的Fe以及0.005%以上且0.10%以下的P,剩余部分包括Cu及不可避免杂质,并且,作为这些元素的含量的相互比率,以原子比计,满足0.002≤Fe/Ni<1.5、3<(Ni+Fe)/P<15、0.3<Sn/(Ni+Fe)<5,并且含有Cu、Zn及Sn的α相的晶粒的平均粒径为0.1~50μm,且包括含有Fe和/或Ni以及P的析出物。
申请公布号 CN103502489B 申请公布日期 2015.11.25
申请号 CN201380001177.7 申请日期 2013.01.04
申请人 三菱综合材料株式会社;三菱伸铜株式会社 发明人 牧一诚;森广行
分类号 C22C9/04(2006.01)I;C22F1/08(2006.01)I;H01B1/02(2006.01)I;H01B5/02(2006.01)I;H01B13/00(2006.01)I;C22F1/00(2006.01)I 主分类号 C22C9/04(2006.01)I
代理机构 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人 康泉;王珍仙
主权项 一种电子电气设备用铜合金,其中,以质量%计,含有超过2.0%且36.5%以下的Zn、0.1%以上且0.9%以下的Sn、0.05%以上且不到1.0%的Ni、0.001%以上且不到0.10%的Fe以及0.005%以上且0.10%以下的P,剩余部分包括Cu及不可避免杂质,并且,规定成:Fe的含量与Ni的含量之比Fe/Ni以原子比计满足0.002≤Fe/Ni<1.5,Ni及Fe的合计含量Ni+Fe与P的含量之比Ni+Fe/P以原子比计满足3<Ni+Fe/P<15,Sn的含量与Ni及Fe的合计量Ni+Fe之比Sn/Ni+Fe以原子比计满足0.3<Sn/Ni+Fe<5,含有Cu、Zn及Sn的α相的晶粒的平均粒径在0.1~50μm的范围内,所述电子电气设备用铜合金包括含有Fe和/或Ni以及P的析出物。
地址 日本东京