电子器件的测试头

摘要

本发明描述了一种用于电子器件的测试设备的测试头(20)，其包括多个插入导向孔的接触探针(22)，和至少一个所述探针的容纳元件(27)，导向孔实现于至少一个上导向件(23)及一个下导向件(24)中，容纳元件(27)设置于上导向件和下导向件(23,24)之间，每个接触探针(22)都具有至少一个尾部为接触尖端的端子部分(25)且从下导向件(24)伸出长度(L)，接触尖端适合邻接在待测器件的各自接触垫上，测试头还包括至少一个设置在容纳元件(27)和上导向件及下导向件(23,24)至少之一之间的间隔元件(28)，该间隔元件(28)为可移除的，以调整所述接触探针(22)的所述端子部分(25)的所述长度(L)。

主权项

用于电子器件的测试设备的测试头(20)，包括多个插入导向孔的接触探针(22)，和至少一个所述探针的容纳元件(27)，所述导向孔实现于至少一个上导向件(23)及下导向件(24)中，所述容纳元件(27)设置于所述上导向件和下导向件(23,24)之间，每个所述接触探针(22)都具有至少一个尾部为接触尖端的端子部分(25)，且从所述下导向件(24)伸出长度(L)，所述接触尖端适合邻接在待测器件的各自接触垫上，其特征在于，所述测试头(20)还包括至少一个设置在所述容纳元件(27)与所述上导向件及下导向件(23,24)至少之一之间的间隔元件(28)，所述间隔元件(28)为可移除的，以调整所述接触探针(22)的所述端子部分(25)的所述长度(L)。