发明名称 |
测试设备自动校准仪、校准系统及校准方法 |
摘要 |
本发明提供一种测试设备自动校准仪、校准系统及校准方法,自动标准仪包括控制器以及与控制器相连的选通模块;控制器用于根据预定设置信息发送选通命令,并控制外部的待校准测试设备相对外部相应的标准测试设备的自动校准;选通模块用于根据选通命令,自动选通控制器与相应的标准测试设备和待校准测试设备之间特定测试通道的电连接,解决了现有技术中需要手动插拔线缆导致的操作复杂和误差大等问题。 |
申请公布号 |
CN102749604B |
申请公布日期 |
2015.11.25 |
申请号 |
CN201210217050.6 |
申请日期 |
2012.06.27 |
申请人 |
北京泛华恒兴科技有限公司 |
发明人 |
陈强;叶川;唐亮 |
分类号 |
G01R35/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R35/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 |
代理人 |
孟阿妮 |
主权项 |
一种测试设备自动校准仪,其特征在于,所述测试设备自动校准仪包括:控制器以及与所述控制器相连的选通模块;所述控制器用于根据预定设置信息发送选通命令,并控制外部的待校准测试设备相对外部相应的标准测试设备进行校准,所述选通命令包括标准测试设备ID及其通信通道ID、待校准测试设备ID及其通信通道ID;所述选通模块用于根据所述选通命令,自动选通所述控制器与所述相应的标准测试设备和所述待校准测试设备之间特定测试通道的电连接;所述选通模块为通用PXI模块化仪器平台;所述通用PXI模块化仪器平台包括:至少一个PXI功能模块板卡,每个所述PXI功能模块板卡用于选通连接一类所述相应的标准测试设备和一类所述待校准测试设备与所述控制器的电连接;所述控制器为工控机,或为与所述通用PXI模块化仪器平台适配的PXI控制板卡;所述控制器通过MXI总线与所述选通模块相连。 |
地址 |
100192 北京市海淀区西小口路66号东升科技园·北领地A-4楼 |