一种芯片调试方法与装置

摘要

本发明提供了一种芯片调试方法，该方法包括以下：系统接收调试信号，进入调试模式，同时进行时钟切换，由调试时钟控制芯片的内核与外设；根据调试需要，可选的进行单步调试、指令插入、内核执行、外部数据存储器调试、特殊寄存器调试或内部寄存器调试。本发明在几乎不改动内核的基础上，通过四种不同的调试入口进入调试状态，解决了指令编码长度不一、指令执行周期不一致给调试带来的困难，完成了芯片调试功能。

主权项

一种芯片调试方法，该方法包括以下步骤：a)系统接收调试信号，进入调试模式，同时进行时钟切换，由调试时钟控制芯片的内核与外设；b)根据调试需要，可选的进行单步调试、指令插入、内核执行、外部数据存储器调试、特殊寄存器调试或内部寄存器调试。