发明名称 用于监测纱线表面的颜色均匀性的方法及执行该方法的装置
摘要 用于监测纱线表面的颜色均匀性的方法及执行该方法的装置。本发明涉及用通过监测和评价由辐射(4)的源(3)向纱线(2)发射而产生的来自纱线(2)的反射的辐射(8)来监测纱线表面(2)的颜色均匀性的方法。在分界面上由反射的辐射的传感器(6)扫描来自纱线(2)的反射的辐射(8)而通过线数字光学传感器(1)扫描绝对纱线直径(2),其中绝对纱线直径(2)的扫描和来自纱线(2)的反射的辐射(8)的扫描以相互时间同步的方式执行。本发明还涉及用于监测纱线(2)表面的颜色均匀性的装置。
申请公布号 CN102087143B 申请公布日期 2015.11.25
申请号 CN201010539285.8 申请日期 2010.09.29
申请人 里特捷克有限公司 发明人 Z·贝兰;P·考萨利克;J·斯劳彭斯基;M·斯图萨克
分类号 G01J3/50(2006.01)I;G01N21/27(2006.01)I 主分类号 G01J3/50(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 刘春元;王忠忠
主权项 用于通过监测和评价由辐射源向纱线发射而产生的来自纱线的反射的辐射来监测纱线表面的颜色均匀性的方法,其特征在于,所述纱线(2)由在时间上具有变化的强度的已调制的辐射照射,并且在与辐射源以及与反射的辐射(8)的传感器(6)的分界面上由反射的辐射的传感器(6)扫描来自纱线(2)的反射的辐射(8)而通过线数字光学传感器(1)扫描绝对纱线直径(2),其中绝对纱线直径(2)的扫描和来自纱线(2)的反射的辐射(8)的扫描以相互时间同步的方式执行,其中,依赖于辐射(4)的调制的时间路径以循环的方式测量反射的辐射(8),并且,在辐射源的辐射(4)的不同强度下,将反射的辐射(8)的能量的量与调制的辐射的各个强度进行比较,同时,将反射的辐射(8)的测量结果与由线数字光学传感器(1)测量纱线(2)的绝对直径的时间相应结果进行比较,并且,仅当反射的辐射(8)的改变不是仅由纱线(2)的绝对直径的改变生成的时,才发出有关纱线表面的颜色均匀性的缺陷的信息。
地址 捷克奥尔利采河畔乌斯季