发明名称 一种金属栅的制作方法
摘要 本发明提供一种金属栅的制作方法,在通过氩溅射工艺去除金属栅上的氧化层的同时,有效地保护有源区的镍-硅金属。首先提供半导体基底,在所述半导体基底上形成源极、漏极、金属栅极以及自对准硅化物层。接着进行如下步骤:沉积氧化铝薄膜;形成触孔蚀刻停止层;形成层间介电层;形成光阻层;进行接触孔的图形定义;去除所述光阻层和一部分触孔蚀刻停止层;进行氩溅射工艺,打开所述金属栅极自氧化形成的氧化铝层。最后进行接触孔金属沉积和化学机械研磨的步骤。
申请公布号 CN102969231B 申请公布日期 2015.11.25
申请号 CN201110256164.7 申请日期 2011.09.01
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 王新鹏;洪中山
分类号 H01L21/28(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I 主分类号 H01L21/28(2006.01)I
代理机构 北京市磐华律师事务所 11336 代理人 董巍;顾珊
主权项 一种金属栅的制作方法,包括:提供半导体基底;在所述半导体基底上形成源极、漏极、金属栅极以及形成于源极、漏极、金属栅极表面的自对准硅化物层;在所述半导体基底上沉积氧化铝薄膜,以作为所述自对准硅化物层的保护层;形成触孔蚀刻停止层;形成层间介电层;形成光阻层;进行接触孔的图形定义;去除所述光阻层和一部分触孔蚀刻停止层;进行氩溅射工艺,去除所述金属栅极顶部的氧化铝薄膜和自氧化形成的氧化层。
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号