发明名称 |
一种金属栅的制作方法 |
摘要 |
本发明提供一种金属栅的制作方法,在通过氩溅射工艺去除金属栅上的氧化层的同时,有效地保护有源区的镍-硅金属。首先提供半导体基底,在所述半导体基底上形成源极、漏极、金属栅极以及自对准硅化物层。接着进行如下步骤:沉积氧化铝薄膜;形成触孔蚀刻停止层;形成层间介电层;形成光阻层;进行接触孔的图形定义;去除所述光阻层和一部分触孔蚀刻停止层;进行氩溅射工艺,打开所述金属栅极自氧化形成的氧化铝层。最后进行接触孔金属沉积和化学机械研磨的步骤。 |
申请公布号 |
CN102969231B |
申请公布日期 |
2015.11.25 |
申请号 |
CN201110256164.7 |
申请日期 |
2011.09.01 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
王新鹏;洪中山 |
分类号 |
H01L21/28(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/28(2006.01)I |
代理机构 |
北京市磐华律师事务所 11336 |
代理人 |
董巍;顾珊 |
主权项 |
一种金属栅的制作方法,包括:提供半导体基底;在所述半导体基底上形成源极、漏极、金属栅极以及形成于源极、漏极、金属栅极表面的自对准硅化物层;在所述半导体基底上沉积氧化铝薄膜,以作为所述自对准硅化物层的保护层;形成触孔蚀刻停止层;形成层间介电层;形成光阻层;进行接触孔的图形定义;去除所述光阻层和一部分触孔蚀刻停止层;进行氩溅射工艺,去除所述金属栅极顶部的氧化铝薄膜和自氧化形成的氧化层。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江路18号 |