发明名称 一种铸造缩孔缺陷图像生成方法
摘要 本发明公开的一种基于diamond-square算法的铸造缩孔缺陷图像生成方法,包括缺陷图像生成、缺陷图像变换处理、融合产品结构背景三个阶段,所述缺陷图像生成阶段包括二维数组的构建,高程数据的生成与存储,高程数据的归一化处理;所述缺陷图像变换处理阶段包括缺陷图像的直方图均衡化处理、阈值化处理、高斯滤波、灰度拉伸;所述融合产品结构背景阶段包括缺陷图像的归一化处理,背景图像与缺陷图像的点乘。本发明的方法,在生成铸造缩孔缺陷图像的过程中具有很好的随机性和仿真性,生成的缺陷可用于示教、增加样本以及测试缺陷检测算法。
申请公布号 CN105095581A 申请公布日期 2015.11.25
申请号 CN201510437966.6 申请日期 2015.07.22
申请人 华南理工大学 发明人 梁兆敏;黄茜;颜伟鑫
分类号 G06F17/50(2006.01)I;G06T11/00(2006.01)I 主分类号 G06F17/50(2006.01)I
代理机构 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人 陈宏升
主权项 一种铸造缩孔缺陷图像生成方法,其特征在于,包括缺陷图像生成、缺陷图像变换处理、融合产品结构背景三个阶段,具体为:S1.缺陷图像生成阶段:S101.构建一个(2<sup>n</sup>+1)×(2<sup>n</sup>+1)的二维数组,该二维数组为空二维数组,n的取值范围为(1,10);S102.利用diamond‑square算法生成(2<sup>n</sup>+1)×(2<sup>n</sup>+1)大小的高程数据,并将其对应地存储在步骤S101建立的二维数组中;S103.对二维数组中的高程数据进行归一化处理;S104.将归一化处理后的高程数据与8位灰度值图像的最大灰度值即255相乘,并将其作为所生成的缺陷图像;S2.缺陷图像变换处理阶段:S201.对经步骤S104处理得到的缺陷图像进行直方图均衡化;S202.对经步骤S201处理得到的缺陷图像进行相应的阈值化;S203.对经步骤S202处理得到的图像进行高斯滤波;S204.对经步骤S203处理得到的图像进行灰度拉伸;S205.重复步骤S201~S204,得到变换处理后的缺陷图像;S3.融合产品结构背景阶段:S301.截取部分真实铸件中带缺陷的图像;S302.经纹理合成处理后,将步骤S301的图像除去缺陷后作为背景图像I;S303.对背景图像I计算检测出其最大灰度值I<sub>max</sub>、最小灰度值I<sub>min</sub>,计算H=255/I<sub>max</sub>的值;S304.将步骤S303中的H值作为缺陷图像的归一化上限,并对由步骤S205得到的缺陷图像进行归一化得到缺陷图像D;S305.将背景图像I和缺陷图像D进行点乘,得到最终的缺陷图像M=I*D。
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