发明名称 |
一种解决离子注入机路径污染的方法 |
摘要 |
本发明提供一种解决离子注入机路径污染的方法,所述方法至少包括步骤:提供中轻原子量的离子作为离子源,调节离子注入机,使所述离子源被加速后在所经的路径上形成发散的离子束,所述离子束撞击路径内壁上的污染层,将污染层剥离;提供多个放置于离子注入机台上的控片,所述离子束及剥离后的污染层注入于所述控片中,完成所述污染层的去除。本发明提供的方法采用中轻原子量的离子作为离子源,通过离子源撞击路径内壁,可以有效去除离子束路径内壁上的污染物,解决离子注入机离子污染问题,减小机台注入剂量误差,提高机台的稳定性。 |
申请公布号 |
CN105097460A |
申请公布日期 |
2015.11.25 |
申请号 |
CN201410193648.5 |
申请日期 |
2014.05.09 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
发明人 |
刀正开;陈立峰;逄锦涛;张进创 |
分类号 |
H01L21/265(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/265(2006.01)I |
代理机构 |
上海光华专利事务所 31219 |
代理人 |
李仪萍 |
主权项 |
一种解决离子注入机路径污染的方法,其特征在于,所述方法至少包括以下步骤:提供中轻原子量的离子作为离子源,调节离子注入机,使所述离子源被加速后在所经的路径上形成发散的离子束,所述离子束撞击路径内壁上的污染层,将污染层剥离;提供多个放置于离子注入机台上的控片,所述离子束及剥离后的污染层注入于所述控片中,完成所述污染层的去除。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江路18号 |