发明名称 使用两个以上的波长带的光的测量的光学分析方法
摘要 提供一种光学分析技术,该光学分析技术使得能够使用共聚焦显微镜或多光子显微镜,通过光学测量识别与时序光强度数据上的信号相对应的发光颗粒的种类、或者识别与除观测颗粒以外的发光颗粒相对应的信号。本发明的光学分析技术同时分别测量来自包含两个以上种类的发光颗粒的样品溶液中的光检测区域的、两个以上波长带的光的强度,以生成各个波长带的时序光强度数据,检测在至少两个波长带的时序光强度数据上同时生成的信号,并且将同时生成的信号识别为至少一个特定种类的发光颗粒的信号。
申请公布号 CN103221806B 申请公布日期 2015.11.25
申请号 CN201180043734.2 申请日期 2011.08.29
申请人 奥林巴斯株式会社 发明人 叶梨拓哉;田边哲也;山口光城;中田秀孝
分类号 G01N21/64(2006.01)I 主分类号 G01N21/64(2006.01)I
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人 刘新宇
主权项 一种用于使用共聚焦显微镜或多光子显微镜的光学系统来检测和分析来自样品溶液的光的方法,其中,所述样品溶液包含自由运动的两个以上种类的发光颗粒,所述方法的特征在于包括以下步骤:按照波长带同时测量来自所述样品溶液中的所述光学系统的光检测区域的两个以上波长带的光的强度,以分别针对每一所述波长带生成时序光强度数据;以及检测在两个以上的所述时序光强度数据中的至少两个波长带的时序光强度数据上同时生成的、表示来自发光颗粒的光的信号,以及将上述同时生成的信号识别为所述两个以上种类的发光颗粒中的至少一个特定种类的发光颗粒的信号。
地址 日本东京都