发明名称 |
指状测试机及使用该测试机以测试印刷电路板之方法 |
摘要 |
一种使用至少两个测试指以测试未设置零件的印刷电路板之指状测试机,各测试指具有一测试探针,其中各测试探针上方具有一侦测装置,侦测装置用以光学侦测的方式侦测至少一测试探针之尖端位置。具有两个或多个测试指之侦测装置系排列于具有间隔之不同的垂直平面中,使得位于测试指上方之侦测装置之至少一些区域位于另一个之上,并且垂直排列但不发生接触。 |
申请公布号 |
CN101479610B |
申请公布日期 |
2015.11.25 |
申请号 |
CN200680045368.3 |
申请日期 |
2006.11.15 |
申请人 |
ATG路德迈股份有限公司 |
发明人 |
维克特·罗曼诺夫 |
分类号 |
G01R1/067(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/067(2006.01)I |
代理机构 |
深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 |
代理人 |
江耀纯 |
主权项 |
一种指状测试机,用以测试未设置零件的印刷电路板,该指状测试机使用至少两个测试指,各测试指具有一测试探针,其中各测试探针之上配设有一侦测装置,用以光学地侦测该至少一测试探针之接触尖端之位置,其特征在于,两个或多个该测试指之该侦测装置以相距印刷电路板表面不同距离之方式排列于不同高度之平面上,以使位于该测试探针上之该侦测装置之至少一些区域位于其他区域之上,取垂直排列但并不发生接触。 |
地址 |
德国威尔斯依姆市 |