发明名称 测量反应器表面上颗粒积聚的系统与方法
摘要 提供监控颗粒/流体混合物的系统与方法。该方法可包括使含带电颗粒和流体的混合物流经颗粒积聚探针。该方法也可包括当一些带电颗粒在没有接触探针的情况下流过探针,而其他带电颗粒接触探针时,测量通过探针检测的电信号。可操作测量的电信号,提供输出值。该方法也可包括若接触探针的带电颗粒的电荷平均不同于没有接触探针,但流过探针的带电颗粒,则根据该输出值测定。
申请公布号 CN103097015B 申请公布日期 2015.11.25
申请号 CN201180043910.2 申请日期 2011.07.08
申请人 尤尼威蒂恩技术有限责任公司 发明人 E·J·马克尔
分类号 B01J8/24(2006.01)I;C08F2/34(2006.01)I;B01J8/38(2006.01)I;G05B1/00(2006.01)I 主分类号 B01J8/24(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 夏正东
主权项 一种监控颗粒/流体混合物的方法,该方法包括:使含带电颗粒和流体的混合物流过颗粒积聚探针;当一些带电颗粒在没有接触探针的情况下流过探针,而其他带电颗粒接触探针时,测量通过探针检测的电信号;操作测量的电信号以提供输出值;和从该输出值确定接触探针的带电颗粒的电荷平均地是否不同于没有接触探针,但流过探针的带电颗粒。
地址 美国得克萨斯