| 发明名称 | 微分相位对比成像 | ||
| 摘要 | 本发明涉及微分相位对比成像，尤其是用于X射线微分相位对比成像的衍射光栅，例如分析器光栅和相位光栅的结构。为了提供增强的基于相位梯度的图像数据，为用于X射线微分相位对比成像的衍射光栅（14，15）提供第一子区域（23），其包括第一光栅结构（26）的至少一个部分（24）和第二光栅结构（30）的至少一个部分（28）。所述第一光栅结构包括周期性布置的具有第一光栅取向G<sub>O1</sub>（37）的多个条（34）和间隙（36）；其中布置所述条使得它们改变X射线辐射的相位和/或幅度，且其中所述间隙能透过X射线。第二光栅结构包括周期性布置的具有第二光栅取向G<sub>O2</sub>（44）的多个条（40）和间隙（42），其中布置条，使得它们改变X射线的相位和/或幅度，且其中间隙能透过X射线。所述第一光栅取向G<sub>O1</sub>与所述第二光栅取向G<sub>O2</sub>不同。于是，可以针对不同方向采集基于相位梯度的图像信息，无需在例如采集步骤之间旋转或绕枢轴转动任何相应的光栅。 | ||
| 申请公布号 | CN103168228B | 申请公布日期 | 2015.11.25 |
| 申请号 | CN201180050514.2 | 申请日期 | 2011.10.17 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | E·勒斯尔 |
| 分类号 | G01N23/04(2006.01)I;G01N23/20(2006.01)I;G21K1/06(2006.01)I;A61B6/06(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/04(2006.01)I |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 王英;刘炳胜 |
| 主权项 | 一种用于X射线微分相位对比成像的衍射光栅(14，15)，包括第一子区域(23)，所述第一子区域具有：‑第一光栅结构(26)的至少一个部分(24)；以及‑第二光栅结构(30)的至少一个部分(28)；其中，所述第一光栅结构包括周期性布置的具有第一光栅取向G<sub>O1</sub>(37)的多个条(34)和间隙(36)；其中，布置所述条使得它们改变X射线辐射的相位和/或幅度，并且其中，所述间隙能透过X射线；其中，所述第二光栅结构包括周期性布置的具有第二光栅取向G<sub>O2</sub>(44)的多个条(40)和间隙(42)；其中，布置所述条使得它们改变X射线辐射的相位和/或幅度，并且其中，所述间隙能透过X射线；并且其中，所述第一光栅取向G<sub>O1</sub>与所述第二光栅取向G<sub>O2</sub>不同。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||