发明名称 一种磁控溅射装置
摘要 本发明提供一种磁控溅射装置,属于磁控溅射技术领域,其可解决现有的磁控溅射装置无法连续、均匀、任意比例掺杂元素的问题。本发明的磁控溅射装置,包括至少两个靶,分别用于放置向同一基板的成膜区进行溅射的靶材;与每个靶分别对应的磁场产生装置,用于控制靶溅射的粒子的方向。本发明的磁控溅射装置包括至少两个靶,每个靶分别对应磁场产生装置,通过使用至少两个靶溅射,每个靶的靶材都是掺杂了不同的元素的透明导电氧化物,调整两种靶材的比例,实现均匀掺杂不同的元素的目的,通过控制磁场产生装置调节靶材的磁场,从而控制靶材的溅射速度,进而实现靶材任意比例掺杂的目的。本发明的磁控溅射装置适用于制备各种透明导电氧化物薄膜。
申请公布号 CN105088159A 申请公布日期 2015.11.25
申请号 CN201510493704.1 申请日期 2015.08.12
申请人 京东方科技集团股份有限公司 发明人 孙建明;牛犇;王治;周翔
分类号 C23C14/35(2006.01)I;C23C14/08(2006.01)I 主分类号 C23C14/35(2006.01)I
代理机构 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人 柴亮;张天舒
主权项 一种磁控溅射装置,其特征在于,包括:至少两个靶,分别用于放置向同一基板的成膜区进行溅射的靶材;与每个所述靶分别对应的磁场产生装置,用于控制靶溅射粒子的方向。
地址 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号