发明名称 校准检测系统和方法
摘要 一种改善的用于校准电子装置的校准检测系统,包括处理器装置、评估装置和连接装置。该连接装置包括多条引线并且由该处理器装置操作来内部地切换和连接各条引线与该评估装置的各种元件。通过使所有引线都一开始能够与电子装置连接并且通过内部地切换引线与评估装置的各种元件之间的连接,该校准检测系统在执行测试规程时节省了时间并且避免了错误。
申请公布号 CN103154674B 申请公布日期 2015.11.25
申请号 CN201180048582.5 申请日期 2011.09.21
申请人 西屋电气有限责任公司 发明人 R·W·肖普;S·J·那斯恩森;R·J·胡佛
分类号 G01D18/00(2006.01)I 主分类号 G01D18/00(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 冯玉清
主权项 一种校准检测系统(4),用于在校准电子装置(8)时使用,该电子装置(8)构造为接收输入信号,利用该输入信号执行一个或更多操作,以及至少部分地基于该信号以及该一个或更多操作提供输出信号,该校准检测系统包括:处理器装置(32),包括处理器(48)和存储器(52);评估装置(36),与该处理器通信且包括至少第一信号发生器(56)和至少第一测量器件(60);连接装置(40),包括多条引线(80A‑J),至少一些引线每条都与该至少第一信号发生器和该至少第一测量器件中的至少一个相连,且构造为与该电子装置相连;该存储器具有存储在其中的一个或更多程序,其在该处理器上执行时使该校准检测系统执行多个操作,该操作包括:从该至少第一信号发生器使用第一多条引线向该电子装置输入至少第一输入信号;用该至少第一测量器件检测经由第二多条引线来自该电子装置的至少第一输出信号;以及至少部分地基于该至少第一输入信号和该至少第一输出信号判断该电子装置的至少一部分是否被适当校准,其中,所述操作还包括输出指令,该指令表示所述第一多条引线和所述第二多条引线将要连接到的该电子装置上的多个位置。
地址 美国宾夕法尼亚州