发明名称 |
用于操作测量点的方法 |
摘要 |
本发明描述并示出了一种用于操作测量点(1)的方法,其中,由可校准的传感器(5)确定测量参量。本发明所基于的任务是,描述一种用于操作过程设备的测量点的方法,其中替代于现有技术,尤其是能够尽可能准确地规划活动,例如校准或传感器更换属于此。所述任务在所谈及的方法中通过以下方式来解决,即所述传感器(5)在可预先给定的校准时间点处被校准,分别与校准相关联的参数被储存为所述传感器(5)的参考数据的部分,并且,基于所述传感器(5)的所述参考数据来评估与所述传感器(5)不同的传感器(8,6)的与老化相关的参量。另外,本发明还涉及一种用于操作第二测量点(2)的方法。 |
申请公布号 |
CN105091923A |
申请公布日期 |
2015.11.25 |
申请号 |
CN201510368015.8 |
申请日期 |
2015.05.23 |
申请人 |
克洛纳测量技术有限公司 |
发明人 |
M·戴尔曼;C·施米茨 |
分类号 |
G01D18/00(2006.01)I;G01N27/416(2006.01)I |
主分类号 |
G01D18/00(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
臧永杰;刘春元 |
主权项 |
用于操作测量点(1)的方法,其中,在所述测量点(1)处,由至少一个可校准的传感器(5)确定至少一个测量参量,其特征在于,所述传感器(5)在可预先给定的校准时间点处被校准,分别至少一个与校准相关联的参数作为所述传感器(5)的参考数据的部分被储存,并且基于所述传感器(5)的参考数据来评估与所述传感器(5)不同的传感器(8,6)的至少一个与老化相关的参量。 |
地址 |
德国杜伊斯堡 |