发明名称 | 带复合自校正功能的角度检测器 | ||
摘要 | 将传感器头的个数抑制到最少,并且获得到高次分量为止没有频率分量的遗漏的高精度的校正值。一种带自校正功能的角度检测器,在固定于旋转轴的刻度盘的周围具备刻度读取用的传感器头,由在相同刻度盘的周围等间隔地配置的第1传感器头、以及在该第1传感器头的1个位置替换第1传感器头而配置的第2传感器头构成,通过求出第2传感器头与各第1传感器头的测量差并获得平均值来进行自校正,用将第1传感器头以及第2传感器头等间隔地配置了L个的第1组、以及等间隔地配置了M个的第2组进行校正,当设置在刻度盘上的全部刻度的数量设为P时,使通过第2组求出的校正值的相位各错开j*P/L(j=1~L-1)刻度,求出通过第2组求出的校正值、和移动后的校正值的平均值,将该平均值与通过第1组求出的校正值相加并作为校正值而输出。 | ||
申请公布号 | CN102597707B | 申请公布日期 | 2015.11.25 |
申请号 | CN201080050382.9 | 申请日期 | 2010.10.27 |
申请人 | 独立行政法人产业技术综合研究所 | 发明人 | 渡部司 |
分类号 | G01D5/244(2006.01)I | 主分类号 | G01D5/244(2006.01)I |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 高科 |
主权项 | 一种带自校正功能的角度检测器,在固定于旋转轴的刻度盘的周围具备刻度读取用的传感器头,由在相同刻度盘的周围等角度间隔地配置的第1传感器头、以及在该第1传感器头的1个位置替换第1传感器头而配置的第2传感器头构成,通过求出前述第2传感器头与各第1传感器头的测量差并获得平均值来进行自校正,该带自校正功能的角度检测器的特征在于,前述第1传感器头由等角度间隔地配置了L个的第1组构成,前述第2传感器头由等角度间隔地配置了M个的第2组构成,该带自校正功能的角度检测器具备:相移单元,当将设置在前述刻度盘上的全刻度的数量设为P时,使通过前述第2组求出的校正值的相位各错开j*P/L刻度;以及运算单元,求出通过前述第2组求出的校正值、和通过前述相移单元求出的L‑1个移动后的校正值的平均值,将该平均值与通过前述第1组求出的校正值相加并作为校正值而输出,其中,j=1~L‑1,j为自然数,且L和M设为两者的最小公倍数比两者之和大的自然数。 | ||
地址 | 日本东京 |