发明名称 一种提高ADC采样精度的电路结构及方法
摘要 本发明公开了一种提高ADC采样精度的电路结构及方法,包括信号输入端、10dB衰减模块、二选一控制开关、ADC、第一20dB增益模块、第二20dB增益模块、第三20dB增益模块、四选一控制开关及FPGA。本发明能够提高ADC采样精度。
申请公布号 CN105099453A 申请公布日期 2015.11.25
申请号 CN201510556054.0 申请日期 2015.09.02
申请人 西安交通大学 发明人 张国和;顾郁炜;王金磊;闵瑞清;雷绍充
分类号 H03M1/12(2006.01)I 主分类号 H03M1/12(2006.01)I
代理机构 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人 徐文权
主权项 一种提高ADC采样精度的电路结构,其特征在于,包括信号输入端、10dB衰减模块(1)、二选一控制开关(2)、ADC(7)、第一20dB增益模块(3)、第二20dB增益模块(4)、第三20dB增益模块(5)、四选一控制开关(6)及FPGA(8);信号输入端与10dB衰减模块(1)的输入端及二选一控制开关(2)的第一个输入端相连接,10dB衰减模块(1)的输出端与二选一控制开关(2)的第二个输入端相连接,二选一控制开关(2)的输出端与第一20dB增益模块(3)的输入端及四选一控制开关(6)的第一个输入端相连接,第一20dB增益模块(3)的输出端与第二20dB增益模块(4)的输入端及四选一控制开关(6)的第二个输入端相连接,第二20dB增益模块(4)的输出端与四选一控制开关(6)的第三个输入端及第三20dB增益模块(5)的输入端相连接,第三20dB增益模块(5)的输出端与四选一控制开关(6)的第四个输入端相连接,四选一控制开关(6)的输出端与ADC(7)的输入端相连接,ADC(7)的输出端与FPGA(8)的输入端相连接,FPGA(8)的输出端与二选一控制开关(2)的控制信号输入端及四选一控制开关(6)的控制信号输入端相连接。
地址 710049 陕西省西安市咸宁西路28号