| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Messen eines Kapazitätswertes eines kapazitiven Sensorelements mittels eines Integrationsverfahrens, wobei ein Anschluss des Sensorelements mit einem ersten Anschluss eines Integrationskondensators mit einem bekannten Kapazitätswert, welcher groß gegenüber dem Kapazitätswert des Sensorelements ist, an einem gemeinsamen Schaltungsknoten elektrisch verbunden ist, und wobei nach einer Anzahl von Integrationszyklen eine an dem Integrationskondensator anliegende Spannung mittels eines A/D-Wandlers gemessen wird. Das erfindungsgemäße Verfahren umfasst die Verfahrensschritte: a) Festlegen der Anzahl von Integrationszyklen auf einen Startwert und Bestimmen eines Endwertes für die Anzahl von Integrationszyklen b) Initialisieren eines Spannungssummenwerts auf den Wert Null c) Durchführen des Integrationsverfahrens und Addieren des mittels des A/D-Wandlers aktuell bestimmten Spannungswertes zu dem Spannungssummenwert d) Erhöhen der Anzahl um einen Wert n, wobei n größer oder gleich 1 und kleiner als NDiff = NEnd – NStart ist, und Wiederholung der Verfahrensschritte ab Schritt c) bis die Anzahl den bestimmten Endwert überschreitet d) Auswertung des Spannungssummenwerts als Messergebnis. |
