发明名称 |
μ介子断层扫描检查中的初级和次级扫描 |
摘要 |
用于使用宇宙射线产生的μ介子检查对象的技术和系统,其基于所有对象的初步扫描以及由初步扫描确定为潜在包括一个或多个可疑区域的对象的额外扫描。在一个实施方式中,系统可以包括用于执行初步或初级扫描的初级扫描器,以及用于额外或次级扫描的较小的次级扫描器,用于提供有效的和准确的对象的检查,同时维持检查的希望吞吐量。在另一实施方式中,可以使用单个扫描器执行初步扫描和额外扫描两者,同时维持受检查对象的线路的足够吞吐量。 |
申请公布号 |
CN105074440A |
申请公布日期 |
2015.11.18 |
申请号 |
CN201380055004.3 |
申请日期 |
2013.08.21 |
申请人 |
决策科学国际公司 |
发明人 |
M.J.索桑;S.麦肯尼;R.惠伦;G.布兰皮德;A.莱霍维克;P.库尔纳迪 |
分类号 |
G01N23/04(2006.01)I;G01N23/20(2006.01)I;G01V5/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/04(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
周少杰;张贵东 |
主权项 |
一种用于基于使用宇宙射线产生的μ介子的μ介子断层扫描检查对象的方法,包括:在第一成像持续时间,操作包括位置敏感带电粒子探测器的第一μ介子断层扫描扫描器执行受检查对象的成像扫描,以获得整个对象的第一μ介子断层扫描图像;处理所述整个对象的第一μ介子断层扫描图像,以获得对象内部的信息;当所述第一μ介子断层扫描图像的处理显示对象内部没有可疑区域时,生成通过信号,以设置所述第一μ介子断层扫描扫描器准备接收下一个用于检查的对象;当所述第一μ介子断层扫描图像的处理显示对象内部的一个或多个可疑区域时,从所述第一μ介子断层扫描扫描器移除对象以将对象放置在第二、分离的μ介子断层扫描扫描器中,在比所述第一成像持续时间更长的第二成像持续时间,执行对象的成像扫描,以仅获得对象的每个可疑区域的第二μ介子断层扫描图像而不成像所述整个对象,其中所述第二μ介子断层扫描扫描器配置为具有由位置敏感带电粒子探测器覆盖的较小成像区域,以仅获得对象的一部分的图像;以及在所述第二μ介子断层扫描扫描器操作来进一步检查具有一个或多个可疑区域的对象的同时,操作所述第一μ介子断层扫描扫描器接收用于检查的下一个对象。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |