发明名称 |
一种双离子掺杂氧化铈缓冲层及其制备方法 |
摘要 |
本发明公开了一种双离子掺杂氧化铈缓冲层,该缓冲层的化学组成为:(Ce<sub>0.8</sub>Gd<sub>0.2</sub>)<sub>1-x</sub>R<sub>x</sub>O<sub>y</sub>,其中x的取值为0.01~0.2,R为Zr或Mn。另外,本发明还公开了制备该双离子掺杂氧化铈缓冲层的方法,该方法为:一、将铈的有机盐、钆的有机盐和R的有机盐溶解于丙酸中,得到前驱液;二、将所述前驱液涂敷于NiW金属基带上,然后将涂敷有前驱液的NiW金属基带置于管式炉中进行保温热处理,随炉冷却后在NiW金属基带表面得到(Ce<sub>0.8</sub>Gd<sub>0.2</sub>)<sub>1-x</sub>R<sub>x</sub>O<sub>y</sub>双离子掺杂氧化铈缓冲层。本发明的缓冲层具有锐利的立方取向,表面光滑平整、无裂纹,有利于外延生长超导层。 |
申请公布号 |
CN105063578A |
申请公布日期 |
2015.11.18 |
申请号 |
CN201510500561.2 |
申请日期 |
2015.08.14 |
申请人 |
西北有色金属研究院 |
发明人 |
金利华;李成山;冯建情;于泽铭;王耀;张平祥 |
分类号 |
C23C18/12(2006.01)I;C01F17/00(2006.01)I |
主分类号 |
C23C18/12(2006.01)I |
代理机构 |
西安创知专利事务所 61213 |
代理人 |
谭文琰 |
主权项 |
一种双离子掺杂氧化铈缓冲层,其特征在于,该缓冲层的化学组成为:(Ce<sub>0.8</sub>Gd<sub>0.2</sub>)<sub>1‑x</sub>R<sub>x</sub>O<sub>y</sub>,其中x的取值为0.01~0.2,R为Zr或Mn。 |
地址 |
710016 陕西省西安市未央路96号 |