| 发明名称 | 集成电路中的密钥提取 | ||
| 摘要 | 本发明涉及集成电路中的密钥提取。使用接通电源后的易失性存储器的单元的状态，从物理不可复制功能件中提取密钥的方法，其中：根据非易失性存储器中存储的地址来读取单元；纠错码校正读取状态；以及在错误已经被校正的情况下，在非易失性存储器中，由提供非错误状态的另一个单元的地址取代提供错误状态的单元的地址。 | ||
| 申请公布号 | CN102387013B | 申请公布日期 | 2015.11.18 |
| 申请号 | CN201110248641.5 | 申请日期 | 2011.08.26 |
| 申请人 | 意法半导体(鲁塞)公司 | 发明人 | 法布莱斯·马里内特 |
| 分类号 | H04L9/06(2006.01)I | 主分类号 | H04L9/06(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人 | 王茂华;陈姗姗 |
| 主权项 | 一种在易失性存储器(13)接通电源后使用该存储器的单元的状态，从物理不可复制功能件中提取密钥的方法，其中：根据非易失性存储器中存储的地址来读取所述单元；纠错码校正(43)读取的状态；以及在错误已经被校正的情况下，在非易失性存储器中，由提供非错误状态的另一个单元的地址取代提供误差状态的单元的地址，其中从所述易失性存储器中提取的状态被送至掩码(22)，以提供密钥(K)。 | ||
| 地址 | 法国鲁塞 | ||