X射线荧光分析校准所用校准样品的制备和定值方法

摘要

本发明一种X射线荧光分析校准所用校准样品的制备和定值方法，利用实验室收到的实际样品为基体，通过掺入基准试剂(或替代试剂)来制备校准样品。校准样品的数量及各成份的质量分数范围可以任意控制，校准样品的定值全部通过X射线荧光仪完成，无需进行化学分析，配备X-射线荧光分析仪的实验室即可自行制备校准样品，无需化学分析实验室及相关技术人员协助。

主权项

一种X射线荧光分析校准所用校准样品的制备和定值方法，包括以下步骤：1)根据样品S的化学成份i，准备各化学成分相应的化学试剂，将试样S与各化学试剂按设定的比例(1‑Xi)：Xi分别混合均匀，制得各化学成份的极端样品，Xi为化学成份i在样品S中的化学试剂比例；2)将步骤1)中得到的对应某一化学成份i的极端样品与试样S按Ym：(1‑Ym)的比例混合，Ym为0～1范围内的任意赋值，制备得到n个对应化学成份i的混合样，n为大于4的自然数；同样制备各化学成分的混合样；3)对每一混合样中各化学成分的质量分数定值，混合样即为对应化学成分检测的校准样品。