| 发明名称 | 在外部表面上具有表面增强光谱学分析元件的装置 | ||
| 摘要 | 根据示例，一种用于执行光谱学分析的装置包括具有插入到试样中的形状和大小的细长衬底，其中细长衬底具有第一端和第二端。装置还包括在细长衬底的第一端与第二端之间的位置处定位在细长衬底的外部表面上的多个表面增强光谱学分析（SES）元件。 | ||
| 申请公布号 | CN105074427A | 申请公布日期 | 2015.11.18 |
| 申请号 | CN201380075220.4 | 申请日期 | 2013.01.29 |
| 申请人 | 惠普发展公司，有限责任合伙企业 | 发明人 | 山川峯尾;李智勇 |
| 分类号 | G01N21/25(2006.01)I;G01N21/65(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/25(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 王洪斌;陈岚 |
| 主权项 | 一种用于执行光谱学分析的装置，包括：具有插入到试样中的形状和大小的细长衬底，其中细长衬底具有第一端和第二端；以及在细长衬底的第一端与第二端之间的位置处定位在细长衬底的外部表面上的多个表面增强光谱学分析（SES）元件。 | ||
| 地址 | 美国德克萨斯州 | ||