发明名称 |
一种测量聚丙烯微孔膜制程缩幅率的方法 |
摘要 |
本发明涉及一种测量聚丙烯微孔膜制程缩幅率的方法,步骤:Ⅰ、准备测试工具:弹线墨斗、直尺、直角尺、计算器以及待拉伸的基膜卷;Ⅱ、基膜卷展开一段拉伸前膜面,使用弹线墨斗及直尺在拉伸前膜面表面进行标识,标识出两条垂直于纵向的直线,两条直线贯穿拉伸前膜面的横向方向,再将标识有两条直线的拉伸前膜面卷入到基膜卷中;Ⅲ、将基膜卷置于纵向拉伸机进行高温拉伸,由于拉伸过程产生不等比例缩幅,标识的两条直线变成两条弧线;Ⅳ、将拉伸后膜面割下,再纵向测量两条弧线不同点位的距离,根据不同点位间距的变化,计算出基膜膜面的缩幅率。该方法可以直接测量出不同位置缩幅比例,还可以比较横向缩幅分布状态。 |
申请公布号 |
CN105066813A |
申请公布日期 |
2015.11.18 |
申请号 |
CN201510477585.0 |
申请日期 |
2015.08.06 |
申请人 |
江苏安瑞达新材料有限公司 |
发明人 |
史新昆;姜卫明;金苗;张东晖 |
分类号 |
G01B5/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01B5/00(2006.01)I |
代理机构 |
常州市维益专利事务所 32211 |
代理人 |
王凌霄 |
主权项 |
一种测量聚丙烯微孔膜制程缩幅率的方法,其特征在于:具体操作步骤如下:Ⅰ、准备好测试工具:弹线墨斗(2)、直尺、直角尺、计算器以及待拉伸的基膜卷;Ⅱ、将步骤Ⅰ中的基膜卷展开一段拉伸前膜面(1),使用弹线墨斗(2)及直尺在拉伸前膜面(1)表面进行标识,标识出两条垂直于纵向的直线,它们分别为第一直线(3)和第二直线(4),两条直线贯穿拉伸前膜面(1)的横向方向,再将标识有两条直线的拉伸前膜面(1)卷入到基膜卷中;Ⅲ、将步骤Ⅱ中的基膜卷置于纵向拉伸机进行高温拉伸,基膜卷中标识有两条直线的拉伸前膜面(1)在纵向拉伸的作用下形成拉伸后膜面(5),由于拉伸过程产生不等比例缩幅,标识的两条直线变成两条弧线,它们分别为第一弧线(6)和第二弧线(7);Ⅳ、将步骤Ⅲ中的拉伸后膜面(5)割下,再纵向测量两条弧线不同点位的距离,根据不同点位间距的变化,计算出基膜膜面的缩幅率。 |
地址 |
213022 江苏省常州市新北区黄河西路388号粤海工业园常州空港园17号厂房 |