发明名称 | 太阳模拟器辐照度、辐照均匀性和稳定性检测装置 | ||
摘要 | 本实用新型公开了一种太阳模拟器辐照度、辐照均匀性和稳定性检测装置,用于检测太阳模拟器辐照度、辐照均匀性和稳定性,包括封装单晶硅电池片、热电偶传感器、电流连接线、霍尔闭环电流传感器控温台、多通道快速数据采集器和计算机。该装置检测所得信号是快速数据采集器采集的信号,一个信号是封装单晶硅电池片背面热电偶传感器输出的电压信号,一个信号是封装单晶硅电池片短路电流经霍尔闭环电流传感器I-V转换后所得电压信号,这两个信号经快速数据采集器进行AD转换后输出给计算机,由计算机显示数据曲线。利用本实用新型,解决了极短脉冲条件下检测太阳模拟器辐照度的技术难点,并可实现对太阳模拟器辐照不均匀性和不稳定性进行检测。 | ||
申请公布号 | CN204788900U | 申请公布日期 | 2015.11.18 |
申请号 | CN201520407162.7 | 申请日期 | 2015.06.12 |
申请人 | 中国计量科学研究院 | 发明人 | 张俊超;熊利民;孟海凤;赫英威;张碧丰;蔡川 |
分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 任岩 |
主权项 | 一种太阳模拟器辐照度、辐照均匀性和稳定性检测装置,其特征在于,该装置包括封装单晶硅电池片(1)、热电偶传感器(2)、电流连接线(3)、霍尔闭环电流传感器(4)、控温台(5)、多通道快速数据采集器(6)和计算机(7),其中:封装单晶硅电池片(1),是由经过老化处理的单晶硅电池片封装后得到,其正面面向太阳模拟器光源;热电偶传感器(2),贴于封装单晶硅电池片(1)背面,以测量封装单晶硅电池片(1)的温度,并通过同轴电缆与多通道快速数据采集器(6)匹配连接;电流连接线(3),采用非屏蔽铜导线,穿过霍尔闭环电流传感器(4),并短接封装单晶硅电池片(1)的正负极;霍尔闭环电流传感器(4),通过同轴电缆与多通道快速数据采集器(6)匹配连接,对该太阳模拟器辐照度、辐照均匀性和稳定性检测装置进行电流测试;控温台(5),置于封装单晶硅电池片(1)背部,采用电学控温模式使封装单晶硅电池片(1)温度维持恒定;多通道快速数据采集器(6),包含多个数据采集端口,每个数据采集端口对应一个通道,检测时选用其中的任意两个通道;计算机(7),具有多个USB端口,采用USB端口分别连接于多通道快速数据采集器(6)和霍尔闭环电流传感器(4)。 | ||
地址 | 100013 北京市朝阳区北三环东路18号 |