| 发明名称 | 一种内嵌式存储器的模拟测试开发平台 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种内嵌式存储器的模拟测试开发平台，包括：设备系统和测试系统；所述设备系统用于模拟内嵌式存储器；所述测试系统用于模拟外界PC，实现对设备系统的测试。本发明操作简单，能够高效地对FTL进行测试，提高内嵌式存储器中FTL的开发效率，提高FTL的稳定性。 | ||
| 申请公布号 | CN105068909A | 申请公布日期 | 2015.11.18 |
| 申请号 | CN201510496664.6 | 申请日期 | 2015.08.13 |
| 申请人 | 北京京存技术有限公司 | 发明人 | 庄开锋 |
| 分类号 | G06F11/26(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人 | 孟金喆;胡彬 |
| 主权项 | 一种内嵌式存储器的模拟测试开发平台，其特征在于，包括：设备系统和测试系统；所述设备系统用于模拟内嵌式存储器；所述测试系统用于模拟外界PC，实现对设备系统的测试。 | ||
| 地址 | 100176 北京市大兴区经济技术开发区景园北街2号52幢202室 | ||