低温测试操作箱

摘要

本发明揭示一种低温测试操作箱，用于对电子产品的低温测试操作，该操作箱包括：箱体，其具有一开放端，所述箱体内提供一低温环境；箱门，与所述箱体的开放端结合，所述箱门闭合后，所述箱体箱门形成密闭空间；连接器，其穿设于所述箱体的壁，所述连接器包括内端口和外端口，所述内端口设于所述箱体内部，与待测试的所述电子产品的端口相匹配，所述外端口设于所述箱体外部，与测试治具的端口相匹配。采用该低温测试操作箱，由于采用具备内端口和外端口的连接器，将测试治具连接到箱体外部，使得操作可以在箱体外部，避免了人手在箱体内低温环境下长期操作；测试时开关箱门动作变少，减少箱内温度泄露。

主权项

一种低温测试操作箱，用于对电子产品的低温测试操作，其特征在于，该操作箱包括：箱体，其具有一开放端，所述箱体内提供一低温环境；箱门，与所述箱体的开放端结合，所述箱门闭合后，所述箱体箱门形成密闭空间，所述箱门为透明体，所述箱门上设有操作口，所述操作口上由其四周向中心延伸设有软性密封部；连接器，其穿设于所述箱体的壁，所述连接器包括内端口和外端口，所述内端口设于所述箱体内部，与待测试的所述电子产品的端口相匹配，所述外端口设于所述箱体外部，与测试治具的端口相匹配。