发明名称 电位器的劣化诊断方法
摘要 根据本发明的电位器的劣化诊断方法,可以不像噪声的发生那样在过早的阶段被诊断为故障。已知电位器的性能按照发生噪声、直线性劣化、电阻值变化、转矩增大的顺序发生劣化。本发明,着眼于在该顺序中迟于发生噪声的直线性的劣化,对该直线性的劣化进行诊断。具体来说,对电位器的动作状态下的输出电阻值R进行计测,对该计测到的输出电阻值R和预测值R’进行比较,根据其比较结果对直线性的劣化进行诊断。
申请公布号 CN103308792B 申请公布日期 2015.11.18
申请号 CN201310068859.1 申请日期 2013.03.04
申请人 阿自倍尔株式会社 发明人 猿渡亮;成田浩昭;阿部卓司
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 上海市华诚律师事务所 31210 代理人 肖华
主权项 一种电位器的劣化诊断方法,其特征在于,将输入输出间的直线性的劣化作为至电位器的故障为止的性能的劣化之一来进行诊断,对所述电位器的动作状态下的输出电阻值R进行计测,对该计测到的输出电阻值R和预测值R’进行比较,根据其比较结果对所述直线性的劣化进行诊断,以及将所述电位器的可动范围中的输出电阻值的最大值以及最小值设为Ro,max以及Ro,min,将通过预先设定的保证点之后的动作时间设为t,将从所述最大值Ro,max至所述最小值Ro,min为止的动作时间设为tmax,将所述保证点的输出电阻值设为Ro,x%,将所述预测值求得为R’=〔(Ro,max-Ro,min)/tmax〕·t+Ro,x%,在|R-R’|超过规定的阈值时判断为丧失了直线性。
地址 日本东京都千代田区丸之内2丁目7番3号东京大楼