发明名称 非晶质复合氧化膜、结晶质复合氧化膜、非晶质复合氧化膜的制造方法、结晶质复合氧化膜的制造方法及复合氧化物烧结体
摘要 本发明涉及膜,其特征在于,实质上包含铟、锡、镁和氧,锡以Sn/(In+Sn+Mg)的原子数比为5~15%的比例含有,镁以Mg/(In+Sn+Mg)的原子数比为0.1~2.0%的比例含有,剩余部分包含铟和氧,并且通过在260℃以下的温度下进行退火,膜结晶化,膜的电阻率为0.4mΩ以下。本发明的目的在于提供ITO基膜、该膜的制造方法以及用于制造该膜的烧结体,所述ITO基膜具有如下特性:通过将用于平板显示器用显示电极等的ITO基薄膜在衬底无加热的状态下、在成膜时不添加水而进行溅射成膜,得到非晶质的ITO基膜,并且该ITO基膜通过在260℃以下的不太高的温度下进行退火而结晶化,结晶化后的电阻率降低。
申请公布号 CN105063555A 申请公布日期 2015.11.18
申请号 CN201510393929.X 申请日期 2008.06.13
申请人 JX日矿日石金属株式会社 发明人 生泽正克;矢作政隆;长田幸三;挂野崇
分类号 C23C14/08(2006.01)I;C23C14/34(2006.01)I;C23C14/58(2006.01)I;C04B35/01(2006.01)I 主分类号 C23C14/08(2006.01)I
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人 王海川;穆德骏
主权项 一种非晶质复合氧化膜,其为将成膜后的非晶质复合氧化膜进行蚀刻后的膜,其中,实质上包含铟、锡、镁和氧,锡以Sn/(In+Sn+Mg)的原子数比为5~15%的比例含有,镁以Mg/(In+Sn+Mg)的原子数比为0.1~1.1%的比例含有,剩余部分包含铟和氧。
地址 日本东京都