| 摘要 |
<p>電子部品を検査及び分類した後に、その検査結果を用いて再検査及び再分類することができ、オーバーキル率の低下又は品質のバラツキを抑制できる電子部品検査装置を提供する。電子部品の観測結果情報ｉ１を解析して電子部品の良品と不良品の別を判定し、判定情報ｉ２に基づいて電子部品を品質別の収容体に分類する。このとき、電子部品の分類先である収容体内での位置を示す識別情報ｉ３を生成し、観測結果情報ｉ１と当該電子部品の位置を示す識別情報ｉ３を関連付けておく。観測結果情報ｉ１に基づき電子部品の品質を再判定し、その観測結果情報ｉ１に関連付けられた識別情報ｉ３に再判定の結果を更に関連付ける。そして、再判定の結果に基づき、識別情報ｉ３が示す位置の電子部品を品質別の収容体に再分類する。</p> |
