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发明名称
探测器
摘要
提供一种可防止基板之半导体元件之检查的处理量下降之探测器。探测器(10),系具备有:平台(11),具有载置有形成半导体元件之晶圆(W)的水平载置面(11a);探针卡(16),与该平台(11)相对向;及3个滚筒机构(26),具有垂直的旋转轴,而且在所载置的晶圆(W)周围,于圆周上以等间隔予以配置,各滚筒机构(26),系接触于晶圆(W)的外周,而使晶圆(W)在水平面内旋转。
申请公布号
TW201543051
申请公布日期
2015.11.16
申请号
TW104104051
申请日期
2015.02.06
申请人
东京威力科创股份有限公司 TOKYO ELECTRON LIMITED
发明人
秋山収司 AKIYAMA, SHUJI;矢野和哉 YANO, KAZUYA;猪股勇 INOMATA, ISAMU
分类号
G01R31/28(2006.01);G01R31/26(2014.01)
主分类号
G01R31/28(2006.01)
代理机构
代理人
林志刚
主权项
地址
日本 JP
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