发明名称 半导体装置;SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要 形成半导体装置的方法可包括在基板上形成在第一方向上延伸的鳍状主动图案,鳍状主动图案包括在基板上的下部图案以及在下部图案上的上部图案。在基板上、鳍状主动图案的侧壁上形成场绝缘层,且相较于场绝缘层的顶表面,部分的上部图案自基板凸出更多。形成与鳍状主动图案相交且在不同于第一方向的第二方向上延伸的虚拟闸极图案。所述方法包括在虚拟闸极图案的侧壁上形成虚拟闸间隙壁、在虚拟闸极图案的两侧上的鳍状主动图案中形成凹陷且在虚拟闸极图案的两侧上形成源极和汲极区。
申请公布号 TW201543678 申请公布日期 2015.11.16
申请号 TW104109653 申请日期 2015.03.26
申请人 三星电子股份有限公司 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 前田茂伸 MAEDA, SHIGENOBU;权兑勇 KWON, TAE-YONG;金相秀 KIM, SANG-SU;朴在厚 PARK, JAE-HOO
分类号 H01L29/772(2006.01);H01L27/092(2006.01);H01L21/335(2006.01) 主分类号 H01L29/772(2006.01)
代理机构 代理人 叶璟宗郑婷文詹富闵
主权项
地址 南韩 KR