发明名称 |
用于检查温度特性的记忆体插槽;MEMORY SOCKET FOR EXAMINING TEMPERATURE CHARACTERISTIC |
摘要 |
本发明涉及用于检查温度特性的记忆体插槽,上述用于检查温度特性的记忆体插槽包括:针脚块,设有用于设置记忆体的设置部;印刷电路板,与该针脚块具有间隙,在该印刷电路板形成有能够使设于该针脚块的弹簧式探针插入的槽部;聚醯亚胺(polyimide)膜,压接于该针脚块的下部,该聚醯亚胺膜用于阻断该针脚块和该印刷电路板之间发生间隔;以及加压块,配置于该针脚块的上部,并向该设置部升降来对该记忆体进行加压。 |
申请公布号 |
TW201543499 |
申请公布日期 |
2015.11.16 |
申请号 |
TW104113561 |
申请日期 |
2015.04.28 |
申请人 |
NTS有限公司 NTS CO., LTD. |
发明人 |
郑羽烈 JEONG, WOO-YOEL |
分类号 |
G11C7/24(2006.01);H01R12/71(2011.01) |
主分类号 |
G11C7/24(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
康清敬 |
主权项 |
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地址 |
南韩 KR |