发明名称 半导体元件及形成方法;SEMICONDUCTOR DEVICE WITH GATE STACKS AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
摘要 本发明提供用以形成半导体元件的机制之实施例。半导体元件包括一半导体基板和一第一闸极堆叠。第一闸极堆叠包括:一闸极介电层;一第一功函数金属层;以及一第二功函数金属层,直接位于第一功函数金属层上。第二功函数金属层和第一功函数金属层具有相同的金属元素。半导体元件也包括一第二闸极堆叠。第二闸极堆叠包括:一闸极介电层;一阻障层;以及一第二功函数金属层。第二功函数金属层和阻障层不具有相同的金属元素。第一闸极堆叠的第二功函数金属层的一第一厚度大于第二闸极堆叠的第二功函数金属层的一第二厚度。
申请公布号 TW201543552 申请公布日期 2015.11.16
申请号 TW103144917 申请日期 2014.12.23
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 发明人 何伟硕 HO, WEI SHUO;江宗育 CHIANG, TSUNG YU;廖家骏 LIAO, CHIA CHUN;陈光鑫 CHEN, KUANG HSIN
分类号 H01L21/28(2006.01);H01L27/088(2006.01);H01L29/49(2006.01) 主分类号 H01L21/28(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文颜锦顺
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号 TW
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