发明名称 |
Halbleitervorrichtung und rückwärts leitender Bipolartransistor mit isoliertem Gate mit isolierten Sourcezonen |
摘要 |
Eine Halbleitervorrichtung umfasst eine Halbleitermesa (160) mit wenigstens einer Bodyzone (115), die erste pn-Übergänge (pn1) mit Sourcezonen (110) und einen zweiten pn-Übergang mit einer Driftzone (120) bildet. Eine Sockelschicht (130) an einer Seite der Driftzone (120) entgegengesetzt zu der wenigstens einen Bodyzone (115) umfasst erste Zonen (131) eines Leitfähigkeitstyps der wenigstens einen Bodyzone (115) und zweite Zonen (132) eines Leitfähigkeitstyps der Driftzone (120). Elektrodenstrukturen (150, 180) sind auf entgegengesetzten Seiten der Halbleitermesa (160) vorgesehen. Wenigstens eine der Elektrodenstrukturen (150, 180) umfasst eine Gateelektrode (155), die einen Ladungsträgerfluss durch die wenigstens eine Bodyzone (115) steuert. In einem Trennbereich (400) zwischen zwei der Sourcezonen ist (i) eine kapazitive Kopplung zwischen der Gateelektrode (155) und der Halbleitermesa (160) oder (ii) eine Leitfähigkeit von Majoritätsladungsträgern der Driftzone (120) niedriger als außerhalb des Trennbereiches (400). |
申请公布号 |
DE102015107331(A1) |
申请公布日期 |
2015.11.12 |
申请号 |
DE201510107331 |
申请日期 |
2015.05.11 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
BABURSKE, ROMAN;DAINESE, MATTEO;LECHNER, PETER;SCHULZE, HANS-JOACHIM;LAVEN, JOHANNES GEORG |
分类号 |
H01L29/739;H01L29/06;H01L29/41;H01L29/78;H01L29/861 |
主分类号 |
H01L29/739 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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