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<p>본 발명의 실시예에 따른 소결광의 성분 정량화 방법은 소결광에 광을 조사하고, 반사되는 광의 휘도 데이타를 획득하여, 상기 소결광에 포함된 성분들의 각 휘도값에 따른 명암이 나타나도록 화상 이미지를 생성하는 과정, 화상 이미지 상에서, 명암별로 면적을 산출하여, 각 성분에 대한 함량을 정량화하는 과정을 포함하고, 상 이미지 상에서 소결광에 포함된 기공 주변의 성분을 정량화하는 데 있어서,기공으로 분류되는 영역과 정량화하고자 하는 성분 영역 사이의 영역을 제거하는 과정 및 정량화하고자 하는 성분 영역의 면적을 산출하여, 함량값으로 변환하는 과정을 포함한다. 따라서, 본 발명의 실시형태들에 의하면, 소결광에 포함된 기공으로 인한 분석 오차를 최소화할 수 있어, 소결광의 각 성분들에 대한 함량 분석 오차를 최소화할 수 있다. 또한, 기공의 면적 측정에 있어서, 한 화면 상에서 기공이 잘리지 않고, 한 개체로 인식되어 측정되도록 함으로써, 기공 면적을 용이하게 측정할 수 있으며, 기공 면적 측정 오차를 줄일 수 있다.</p> |
